MINITEST740測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：

MINITEST740測(cè)厚儀，SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。

更新時(shí)間：2024-03-14

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產(chǎn)品介紹：

品牌	ElektroPhysik/德國(guó)EPK	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,綜合

MINITEST740測(cè)厚儀

MiniTest 740 EPK涂層測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有抗干擾性
無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)MINITEST740任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒(méi)問(wèn)題，加長(zhǎng)的電纜線同樣具有抗干擾能力。

MiniTest 740 EPK涂層測(cè)厚儀 SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。

MiniTest 740 EPK涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過(guò)程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過(guò)程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測(cè)量錯(cuò)誤降至低。