MINITEST730測厚儀

MINITEST730系列：統(tǒng)計型，外置一體式探頭,不可更換探頭

MiniTest 730 F 1.5鐵基涂層，0...1500 µm

MiniTest 730 N 07非鐵基涂層，0...700 µm

MiniTest 730 FN 1.5兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)

MiniTest 730 F2鐵基涂層，0...2000 µm

MiniTest 730 F5鐵基涂層，0...5000 µm

MiniTest 730 N 2.5非鐵基涂層，0...2500 µm

MiniTest 730 FN 5兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)

MiniTest 730 F15鐵基涂層，0...15 mm

EPK涂層測厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線
EPK MINITEST730在消費過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴厲的校準。普通的模仿探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上停止校準，大大降低了特征曲線的偏離。因而特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都非常精準，將丈量錯誤降至zui低
EPK涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在消費過程中，對每個SIDSP探頭都停止了溫度補償?shù)木幋a，這關(guān)于模仿探頭是基本不可能完成的。這樣溫度改動就不會影響丈量，與溫度相關(guān)的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)作！