FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

無(wú)錫駿展儀器FISCHERSCOPE X射線 XDAL是 XDL系列中好的X射線熒光測(cè)量?jī)x器。 和它的“小兄弟"一樣，它是從上到下方向測(cè)量的，這使得測(cè)試形狀奇怪的樣品也捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測(cè)量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過(guò)濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY XDAL對(duì)測(cè)量任務(wù)的要求越高，探測(cè)器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導(dǎo)體探測(cè)器。

無(wú)錫駿展儀器硅PIN二極管是一種中檔檢測(cè)器，非常適合在相對(duì)較大的測(cè)量區(qū)域內(nèi)測(cè)量多個(gè)元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質(zhì)材料涂層。

無(wú)錫駿展儀器與硅PIN二極管相比，高質(zhì)量的硅漂移檢測(cè)器（SDD）具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復(fù)雜測(cè)量任務(wù)：例如，測(cè)量或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應(yīng)用的質(zhì)量控制

無(wú)錫駿展儀器對(duì)于特別棘手的挑戰(zhàn)，F(xiàn)ischer還提供帶有超大探測(cè)器表面的SDD。該探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)在于它能夠可靠地測(cè)量納米級(jí)的鍍層，并進(jìn)行痕量分析。使用這些XDAL以測(cè)試用于高可靠性應(yīng)用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。