Fischer鍍層測(cè)厚儀

菲希爾鍍層測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

庫(kù)侖法的成本效益高，可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了很大的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾鍍層測(cè)厚儀STEP測(cè)試:庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測(cè)量

如果你想在使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)測(cè)量電化學(xué)電勢(shì)，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測(cè)試方法可以同時(shí)測(cè)量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測(cè)定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾鍍層測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP特性

1. 高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)

2. 根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測(cè)量

3. 通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作

4. 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

5. 針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用

6. 測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示

7. 圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估

8. 帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量，適用于各種樣品尺寸

9. 全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求

10. COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

11. 同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差

12. 根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測(cè)試

13. 銀參比電極測(cè)量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)

14. 電解電流可調(diào)整

15. 可直接在測(cè)厚儀顯示器上評(píng)估電位曲線

菲希爾鍍層測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP應(yīng)用

1. 電鍍生產(chǎn)過(guò)程中的監(jiān)控和成品的進(jìn)廠檢驗(yàn)

2. 可以準(zhǔn)確測(cè)量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)

3. 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測(cè)量

4. 多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層

5. 雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳

菲希爾鍍層測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP單鍍層如鐵上鍍鋅

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用

1. STEP測(cè)試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)