Fischerscope X射線測(cè)厚儀\菲希爾代理

Fischer Fischescope x-ray XAN 500菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測(cè)量及材料分析。 適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• Fischer代理X射線測(cè)厚儀測(cè)量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

• 菲希爾鍍層測(cè)厚儀在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量

• 對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)

正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣，F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500菲希爾X射線測(cè)厚儀儀器有著出色的精-確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。的硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。依靠菲希爾/費(fèi)希爾Fischer的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer Fischescope x-ray XAN 500技術(shù)介紹：

菲希爾鍍層測(cè)厚儀設(shè)計(jì)理念：

使用手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以被**地放置到工件上，無(wú)論是鍍層測(cè)厚或者材料分析，都可以保證其測(cè)量結(jié)果的再現(xiàn)性。所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的 軟件在平板電腦上完成。而對(duì)于這款緊湊型設(shè)計(jì)的儀器， 軟件所提供的強(qiáng)大功能都可適用。

Fischerscope X射線測(cè)厚儀\菲希爾代理