菲希爾X-RAY XDL230熒光射線測厚儀信息

 核心技術原理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 基于 X 射線熒光光譜分析原理開展工作。當 X 射線源發(fā)出的初級 X 射線照射樣品時，樣品中各元素原子的內層電子被激發(fā)產生空位，外層電子躍遷填補空位并釋放特征 X 射線熒光。設備通過探測器收集特征 X 射線熒光的能量與強度信息，結合基本參數法（FP 法），實現對樣品中元素種類、含量以及鍍層厚度的定量分析。自動聚焦功能確保 X 射線束與樣品表面的最佳耦合，提升測量精度與重復性。

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀通過 EDXRF 技術與多維度創(chuàng)新設計，實現了檢測精度、效率與適用性的有機統一。其在無損檢測領域的應用，為工業(yè)生產質量管控與材料科學研究提供了可靠的技術手段，隨著檢測需求的持續(xù)升級，該設備的技術優(yōu)勢將進一步推動相關領域的檢測技術發(fā)展。